一、多口測(cè)試的核心價(jià)值

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  效率瓶頸：?jiǎn)慰跍y(cè)試需逐個(gè)進(jìn)行，耗時(shí)長(zhǎng)（如單個(gè)充電器老化48小時(shí)，100個(gè)充電器需4800小時(shí)），無(wú)法滿足量產(chǎn)需求；

  
  

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  一致性驗(yàn)證：需同時(shí)測(cè)試多個(gè)充電器（不同型號(hào)或同一型號(hào)的批量樣品），確保出廠產(chǎn)品性能一致（如輸出電壓偏差≤±0.1V、溫升≤50℃）；

  
  

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  成本控制：通過(guò)批量測(cè)試減少設(shè)備占用時(shí)間與人力投入，降低單臺(tái)充電器的測(cè)試成本；

  
  

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  早期失效篩選：同時(shí)暴露多個(gè)充電器的潛在缺陷（如元件虛焊、散熱不良），提升整體良率。

  
  

二、多口測(cè)試的技術(shù)實(shí)現(xiàn)

1. 多通道獨(dú)立設(shè)計(jì)

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  獨(dú)立負(fù)載控制：每個(gè)通道可單獨(dú)設(shè)置輸出功率（如5V/2A、9V/2A等不同規(guī)格充電器的滿載條件）、電壓/電流閾值及老化時(shí)間，互不干擾；

  
  

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  獨(dú)立參數(shù)監(jiān)測(cè)：實(shí)時(shí)采集每個(gè)通道充電器的輸出電壓（精度±0.01V~±0.05V）、輸出電流（精度±0.02A~±0.1A）、功率（精度±1%~2%）、溫度（精度±1℃~±2℃）等關(guān)鍵參數(shù)，確保數(shù)據(jù)精準(zhǔn)；

  
  

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  獨(dú)立異常處理：當(dāng)某通道充電器出現(xiàn)異常（如輸出電壓驟降、溫度超限），系統(tǒng)自動(dòng)鎖定該通道并觸發(fā)報(bào)警（聲光提示），同時(shí)記錄異常時(shí)間、參數(shù)值及對(duì)應(yīng)充電器編號(hào)，不影響其他通道的正常測(cè)試。

  
  

?? 例如，一臺(tái)48通道老化柜可同時(shí)測(cè)試48個(gè)手機(jī)充電器（如24個(gè)5V/2A、12個(gè)9V/2A、12個(gè)12V/3A），每個(gè)通道按對(duì)應(yīng)規(guī)格精準(zhǔn)加載，實(shí)現(xiàn)“一拖多"高效測(cè)試。

2. 多規(guī)格兼容能力

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  負(fù)載模塊適配：老化柜內(nèi)置或外接可編程電子負(fù)載，支持恒流（CC）、恒壓（CV）、恒功率（CP）等多種模式，可精準(zhǔn)匹配各型號(hào)充電器的負(fù)載需求（如9V/2A充電器需設(shè)置9V電壓+2A電流）；

  
  

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  通道級(jí)參數(shù)設(shè)置：每個(gè)通道獨(dú)立配置電壓范圍（如5V~12V）、電流大小（如0A~3A）及功率等級(jí)（如5W~36W），適配不同規(guī)格充電器的滿載條件（如5V/2A充電器滿載為10W，12V/3A充電器滿載為36W）；

  
  

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  協(xié)議兼容性（可選）：針對(duì)支持快充協(xié)議（如QC3.0、PD2.0/3.0、AFC、FCP）的充電器，部分老化柜可通過(guò)通信接口（如USB PD協(xié)議分析儀）模擬手機(jī)端請(qǐng)求，驗(yàn)證充電器在不同協(xié)議下的輸出穩(wěn)定性。

  
  

?? 例如，測(cè)試混合規(guī)格充電器（5V/2A、9V/2A、12V/3A）時(shí)，48通道老化柜可分區(qū)域設(shè)置：16通道測(cè)試5V/2A（5V/2A負(fù)載）、16通道測(cè)試9V/2A（9V/2A負(fù)載）、16通道測(cè)試12V/3A（12V/3A負(fù)載），確保每類充電器均在標(biāo)稱工況下老化。

3. 高溫環(huán)境下的多口同步測(cè)試

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  統(tǒng)一溫度控制：柜內(nèi)溫度范圍覆蓋常溫（25±2℃）至高溫（45℃~85℃），控溫精度±1℃~±2℃，確保所有通道處于相同溫度應(yīng)力環(huán)境；

  
  

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  溫度均勻性保障：通過(guò)多區(qū)域溫度傳感器布局（如柜內(nèi)頂部、中部、底部及充電器放置區(qū)）與PID智能溫控算法，維持各通道溫度差異≤±3℃，避免局部過(guò)熱導(dǎo)致誤判；

  
  

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  溫升監(jiān)測(cè)：每個(gè)通道獨(dú)立監(jiān)測(cè)充電器表面或關(guān)鍵元件（如變壓器、IC芯片）的溫度（精度±1℃），記錄溫升曲線（如從室溫升至60℃過(guò)程中的溫度變化），評(píng)估散熱設(shè)計(jì)的合理性（如溫升≤60℃為安全范圍）。

  
  

?? 例如，對(duì)一批9V/2A快充適配器進(jìn)行85℃高溫滿載老化時(shí)，48通道老化柜可將柜內(nèi)溫度穩(wěn)定在85℃±2℃，同時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)通道充電器的溫升，篩選出溫升超過(guò)80℃的異常樣品。

4. 高效管理與數(shù)據(jù)整合

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  多通道并行顯示：通過(guò)觸摸屏或上位機(jī)軟件，實(shí)時(shí)顯示所有通道的關(guān)鍵參數(shù)（如電壓、電流、溫度），支持按通道編號(hào)、規(guī)格類型分類查看；

  
  

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  異常批量定位：當(dāng)多個(gè)通道出現(xiàn)同類異常（如電壓普遍偏低），系統(tǒng)自動(dòng)標(biāo)記并生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告（如異常通道占比、具體參數(shù)范圍），便于快速定位共性問(wèn)題（如某批次電容批次不良）；

  
  

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  手機(jī)充電器老化柜多口測(cè)試數(shù)據(jù)整合分析：所有通道的測(cè)試數(shù)據(jù)（如48個(gè)充電器的48小時(shí)老化記錄）自動(dòng)保存并生成綜合報(bào)告，包含電壓漂移趨勢(shì)、溫升分布、良率統(tǒng)計(jì)等，為研發(fā)優(yōu)化或量產(chǎn)決策提供依據(jù)。

  
  

三、多口測(cè)試的典型應(yīng)用場(chǎng)景

1. 量產(chǎn)階段：批量質(zhì)量篩選

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  場(chǎng)景需求：手機(jī)廠商或充電器代工廠需對(duì)大批量充電器（如1000個(gè)/天）進(jìn)行老化測(cè)試，篩選早期失效品（如焊接不良、散熱不足）。

  
  

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  多口測(cè)試方案：使用96通道老化柜，同時(shí)測(cè)試96個(gè)充電器（如48個(gè)5V/2A、24個(gè)9V/2A、24個(gè)12V/3A），在45℃高溫下滿載運(yùn)行48小時(shí)，自動(dòng)剔除溫升超限（＞60℃）或輸出電壓偏差＞±0.1V的樣品，確保出廠良率≥99%。

  
  

2. 研發(fā)階段：多型號(hào)兼容驗(yàn)證

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  場(chǎng)景需求：研發(fā)團(tuán)隊(duì)需同時(shí)測(cè)試不同規(guī)格的充電器（如5V/2A標(biāo)準(zhǔn)充電器與12V/3A快充適配器），驗(yàn)證其在高溫下的性能差異。

  
  

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  多口測(cè)試方案：通過(guò)多通道獨(dú)立設(shè)置，16通道測(cè)試5V/2A（5V/2A負(fù)載）、16通道測(cè)試12V/3A（12V/3A負(fù)載），對(duì)比兩類充電器在85℃高溫下的溫升（如5V/2A溫升≤50℃，12V/3A溫升≤60℃），優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)。

  
  

3. 認(rèn)證階段：多規(guī)格合規(guī)性驗(yàn)證

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  場(chǎng)景需求：充電器需符合USB-IF、CE、GB/T等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)輸出穩(wěn)定性、溫升及安全保護(hù)的要求，需批量驗(yàn)證。

  
  

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  多口測(cè)試方案：使用48通道老化柜，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件（如滿載運(yùn)行100小時(shí)、輸入電壓波動(dòng)±10%）對(duì)48個(gè)充電器（覆蓋不同規(guī)格）同時(shí)測(cè)試，獲取輸出電壓精度、紋波及保護(hù)功能數(shù)據(jù)，用于認(rèn)證申報(bào)。

  
  

四、總結(jié)